MF-100SP绿光表面划痕检查灯介绍

发布时间：2026-04-23 16:35:12 发布人：morvel 浏览量：

MF-100SP绿光表面检查灯配备黄色滤光片，阻挡500nm 以下波长，并产生3 条强汞线，分别为543nm、574nm和576nm，高对比度光源用于细微表面颗粒检测，该灯常见可见直径达10 微米的颗粒。

美国MORSTE 表面检查灯非常适合半导体晶圆检测，因为大多数光刻胶吸收发生在450nm 以下。

MF-100SP表面检查灯可快速检查加工表面的瑕疵、灰尘、异物等（小至10 微米的瑕疵、小颗粒）。高强度抗冲击外壳由有阻热材料制造，可长时间工作不产生高温，灯头连接变压器底座，实现免手提操作，灯头可旋转360°；拆下灯头手持操作可增强工作灵活性。

表面晶粒检查灯应用: LCD 滤光片、偏光板、晶圆、半导体、玻璃或金属表面刮痕及灰尘检查。

MF-100SP表面检查灯可以完全替代美国uvp公司Analytik Jena的B-100Y和B-100YP表面检查灯，功率均为100w，美国uvp公司的B-100Y和B-100YP检查灯已经停产，可用美国MORSTE公司MF-100SP表面绿光检查灯代替，我司为美国MORSTE中国一级代理商，公司常备库存现货。

MF-100SP绿光表面划痕检查灯产品特点：

·检查精密加工表面的瑕疵、污点、异物等；

·快速无损检测小至10 微米的瑕疵、小颗粒；

·有效地探测出生产过程是早期的污物，节省生产时间及不必要的成本；

·100 瓦高强度汞灯发出543、574、576nm 波长光谱；

·黄色滤色片滤掉波长小于500nm 的光线，防止产生荧光干扰；

·高对比度的光线能清晰检测到精细的表面粒子；

·灯头人体工学设计，易于操作；

技术参数：

型号MF-100SP

紫外线源365nm 长波紫外线

功率100W（瓦）